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  • 產(chǎn)品名稱:OLT-55 光損耗測試儀

  • 產(chǎn)品型號:
  • 產(chǎn)品廠商:美國JDSU
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
OLT-55 光損耗測試儀
詳情介紹:

說明:

JDSU(安科特納) OLT-55 光損耗測試儀是JDSU 的 SMART( 靈巧型 ) 光手持式儀表,遠遠超出了基本要求。已經(jīng)有超過 100,000 臺 JDSU 的手持式光表被全球用戶廣泛使用, JDSU 又推出了新的 SMART( 靈巧型 ) 系列手持式光表幫助您的網(wǎng)絡(luò)達到更高的性能。

新的 OLT-55 SMART 光損耗測試儀是一個高性能、易于使用的儀表,它包括一個雙波長或三波長光源和一個光功率計。它是一臺通用儀表,用于對單模光纖與系統(tǒng)進行實驗室測試、生產(chǎn) (USB 接口 ) 測試、安裝、維護與故障查找。可以同時測試多至三個波長 (Tripletest) 的損耗。只需用一根光纖跳線將光源與光功率計連接起來,對于所有內(nèi)置波長進行快速參考測試,且不受當前測試模式的影響。此外, OLT-55 可以被用作光功率計或者光源,具有 OLS-55 與 OLP-55 的相應(yīng)特性。由于其獨有的內(nèi)置自動調(diào)零功能,它創(chuàng)造了一個新的產(chǎn)業(yè)標準,即使對于非常低的功率或者很高的損耗也能夠獲得*高的測試精度。

功能特點

• 業(yè)內(nèi)**個具有自動調(diào)零功能 ( 正在申請** ) 光功率計。即使對于高損耗測量也能夠提供出色的精度,無需手動調(diào)零。

• Auto-入功能提供自動波長檢測以加速測試。 TWINtest 和新的 TRIPLEtest 功能可以同時測量與顯示三個不同波長測試結(jié)果。

• 加亮的圖形化界面使其在陽光下和黑暗環(huán)境中也能清晰地顯示測試結(jié)果。

• 功率計輸入端的反射閘設(shè)計減少了在適配器與光電二極管之間的多次反射,能夠提高測試精度 ( 適配器 BN 2014/00.xx) 。

• 用于光功率計的通用光適配器,包括 UPP 適配器,能夠保證適用于現(xiàn)場的所有類型連接器。

• 光源 BN 2150/00.xx 的通用適配器能夠用于所有的連接器類型。

• 帶有輸出功率調(diào)整的激光源能夠確保為每個應(yīng)用提供正確的功率輸出。

• 由于具有內(nèi)置的光隔離器,能夠提供更高輸出功率穩(wěn)定性。

• USB 接口提供方便的遠程控制與報告生成。

技術(shù)參數(shù)

訂貨號

2286/01

2286/02

2286/04

2286/05

2286/06

損耗測試模式

波長

1310/1550

1310/1490/1550

1310/1550

1310/1550/1625

1310/1550

譜寬(RMS

5nm

光纖類型

9/125um

信號穩(wěn)定度

短期穩(wěn)定度: ±0.02dB , 15 分鐘內(nèi);長期穩(wěn)定度: ±0.2dB , 8 小時內(nèi)

動態(tài)范圍

60dB

60dB

70dB

70dB

60dB

結(jié)果顯示

dB

顯示分辨率

0.01dB

線形度

±0.06dB ±0.04nw

光功率計模式

校準波長范圍

780~1650nm 可調(diào);調(diào)整步長 1nm

780~1650nm 可調(diào);調(diào)整步長 1nm

800~1700nm 可調(diào);調(diào)整步長 1nm

800~1700nm 可調(diào);調(diào)整步長 1nm

800~1700nm 可調(diào);調(diào)整步長 1nm

光電二極管

Ge

Ge

InGaAs

InGaAs

InGaAs

光纖類型

9/125~100/140um

顯示范圍 dBm

-70-+20

-70-+20

-80-+15

-80-+15

-60-+26

顯示單位

dBm dB 、 mW μW

顯示分辨率

0.01dB

*大允許輸入功率

+20dBm

產(chǎn)品詢價
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