簡(jiǎn)單介紹：
GUT-6000B 數(shù)字IC測(cè)試儀 支持54/74系列TTL和4000及4500系列高速CMOS
詳情介紹：
| 特點(diǎn) |
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循環(huán)測(cè)試 自動(dòng)搜尋 IC 編號(hào)功能 開(kāi)機(jī)自我偵測(cè)診斷功能 過(guò)載保護(hù)功能 可測(cè)量的IC 種類超過(guò) 1800 種 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS 4000 及 4500 系列 CMOS 測(cè)試針腳: 28 Pin |
產(chǎn)品規(guī)格
| 測(cè)試范圍 | |
| 54/74 系列 TTL | |
| 4000 及 4500 系列 CMOS | |
| 測(cè)量種類 | |
| 約 1800 種 | |
| 測(cè)試電壓 | |
| 5V DC | |
| 測(cè)試時(shí)間 | |
| 高測(cè)試速度，平均 0.8 秒可完成一個(gè) IC | |
| 電源 | |
| 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz | |
| 尺寸&重量 | |
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335(寬) x 105(高) x 300(長(zhǎng)) mm 約 1.5 公斤 |
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配件
使用手冊(cè) x1,電源線 x1
產(chǎn)品詢價(jià)
